一种高速ADC静态参数的内建自测试结构
针对混合信号电路的测试问题,提出了一种内建自测试(BIST)结构,分析并给出了如何利用该结构来计算计算片上高速模数转换器(ADC)的静态参数.该方法利用三角波信号作为测试激励,采用码密度直方图分析方法快速计算ADC的各静态参数.根据改进测试算法所构造的BIST结构实现了芯片内只有ADC电路的可测性设计,而不需要用到片内集成DSP.内嵌的信号发生器能自动生成高频连续三角波测试信号,适合高速ADC的测试.该BIST结构精简了电路规模,减少了硬件开销,易于片上集成.
内建自测试 参数测试 信号电路 模数转换器
朱彦卿 何怡刚 阳辉 刘美容 王玺
湖南大学电气与信息工程学院 湖南大学电气与信息工程学院;信息产业部电子第五研究所元器件检测中心
国内会议
北戴河
中文
155-159
2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）