基于概率转移矩阵的VLSI电路可靠性评估的并行方法
随着电路集成度的提高,软差错已经成为影响可靠性的关键因素.概率转移矩阵是一种用于估计软差错对电路影响的有效方法,它通过对门级电路建立概率模型来计算电路的可靠性,现有结果表明这种方法主要适用于规模不大的电路.针对VLSI电路,本文提出了基于概率转移矩阵的电路可靠性评估的并行方法,首先对电路进行划分,然后并行地计算各个模块的概率转移矩阵,最后将其合成对应于整个电路的概率转移矩阵.在矩阵存储空间压缩中引入了代数决策图.初步的实验结果表明,该并行算法可以有效地减少13％的平均时间开销.
转移矩阵 代数决策图 电路分割 电路可靠性 集成电路
王真 江建慧 沈君华 唐智杰
同济大学计算机科学与技术系,上海,200331
国内会议
北戴河
中文
125-130
2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）