锁相环在荧光测温系统中的应用

摘要：

介绍锁相环测量荧光寿命的原理,给出荧光寿命与锁相环输出频率的数学关系.设计具体的锁相环电路,并建立利用锁相环技术检测荧光寿命的荧光温度传感器系统.采用Cr3+YAG作为荧光敏感材料,此系统在20℃-150℃范围内分辨率达到±0.08℃,最低测量精度为1℃.

关键词： 荧光寿命 温度传感器 锁相环电路

作者: 王玉田 耿丽琨

作者单位: 河北省燕山大学电气工程学院,河北,秦皇岛,066004

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国测试学术会议

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 39-42

在线出版日期: 2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）