基于振荡的SoC模拟核和ADC可测性设计
将数字电路、模拟电路、处理器、存储器等集成到同一块芯片上的SoC技术,给集成电路的测试提出了新的挑战,其中模拟和混合信号电路的测试是目前SoC测试的瓶颈.本文提出一种基于振荡的SoC模拟核和模数转换器(ADC)可测性设计方案,在测试模式下,被测模拟核通过重构形成振荡器,产生周期性的信号作为ADC的测试激励.通过分析A/D转换结果,可对ADC进行柱状图测试,并同时检测模拟核的振荡频率,实现对模拟核的振荡测试.
集成电路 信号电路 模数转换器 测性设计
胡庚 王红 杨士元
清华大学自动化系,北京,100084
国内会议
北戴河
中文
26-31
2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）