基于SOC嵌入式核测试结构的研究
以复用嵌入式核测试为目标的测试策略是现今解决SOC测试问题的基础,IEEEP1500嵌入式核测试组织已经在SOC测试壳,测试壳与测试存取通道之间接口和测试接口语言方面取得了一定的成果,但关于核的测试结构的具体实施,相应的测试存取机构的选取和设计方面还未予标准化.本文从测试复用的角度,研究了可复用IP核以及系统芯片SOC的测试结构,介绍了IEEEP1500嵌入式核测试外壳和另外一种测试外壳结构Test Shell,主要探讨了IEEEP1500的串行TAM和并行TAM,即基于测试总线和基于CAS-BUS的存取机制,并给出其在SOC中的应用.
嵌入式IP核 测试外壳 存取机制 系统芯片
王玺 何怡刚 刘美容 苏旷宇
湖南大学,电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082
国内会议
北戴河
中文
20-25
2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）