一种嵌入式存储器的内建自修复机制

摘要：

嵌入式存储器正逐渐成为SoC的主体结构,对嵌入式存储器设计内建自测试和内建自修复结构是降低制造成本,提高SoC成品率和可靠性的有效方法.本文介绍一种分段列冗余的软修复机制,并分析该修复机制的性能、面积开销.

关键词： 嵌入式存储器 自修复结构 内建自测试

作者: 付祥 王达 李华伟 胡瑜 李晓维

作者单位: 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,100080;中国科学院研究生院信息科学与工程学院,100039 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国测试学术会议

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 15-19

在线出版日期: 2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）