时延测试在一款通用微处理器上的应用

摘要：

随着芯片制造工艺的发展和频率的提高,时延测试在微处理器测试中有着越来越重要的作用.本文介绍了一款通用微处理器上的时延测试,然后针对时延测试所引起的测试向量数的增加,介绍了一种测试向量集的优化流程,实验结果表明该优化流程将测试向量体积减小了35％.

关键词： 时延测试 微处理器 向量集

作者: 刘慧 胡瑜 李华伟 李晓维

作者单位: 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,100080;中国科学院研究生院,100080 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国测试学术会议

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 98-103

在线出版日期: 2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）