JTAG测试在实际电路系统中的应用实例

摘要：

本文介绍了IEEE1149.1标准JTAG测试原理,并结合一个实际的电路系统,详细描述了如何利用JTAG测试原理,快速高效地对复杂电路系统中IC芯片之间的连通性进行测试,从而为电路系统的调试提供方便。

关键词： 集成电路芯片 连通性测试 系统调试

作者: 陈诚

作者单位: 国家高性能集成电路(上海)设计中心,上海,201203

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006中国计算机学会体系结构专委会学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 191-195

在线出版日期: 2006-08-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）