低压电器电触头质量检测与评价的研究

摘要：

钎焊缺陷是影响电触头性的二维超声C扫描图像可以反映钎焊缺陷的分布特征.利用超声C扫描图像的二值化处理后的图像可以计算出该界面的钎着率,并根据所得的钎着率判断电触头钎焊质量的好坏.本文分析研究了钎着率的计算方法,检测钎着率的影响因素.

关键词： 电触头 C扫描图像 钎着率 钎焊 低压电器

作者: 杨日胜 王裕文 潘希德 薛锦

作者单位: 西安交通大学,焊接研究所,陕西,西安,710049

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电工技术学会低压电器专业委员会第十三届学术年会

会议地点: 天津

会议语种:中文

页码: 300-302

在线出版日期: 2007-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）