FFT处理器的内建自测试方法研究

摘要：

本文提出了一种用于基于存储器的FFT处理器的内建自测试(BIST)方法.把FFT处理器分割成存储器模块和逻辑模块,在共同的BIST控制器的控制下完成测试.BIST控制器不仅可以执行传统的存储器测试算法,而且可以生成用于逻辑模块的测试向量.逻辑模块采用了新颖的可测性设计方法,假设了单元故障模型.这一BIST结构可以并行测试各模块显著减少测试时间,且硬件开销非常低.

关键词： FFT处理器 内建自测试 存储器

作者: 王颖 陈禾

作者单位: 北京理工大学电子工程,100081

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006北京地区高校研究生学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 556-561

在线出版日期: 2006-12-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）