NI在测控系统中的应用

摘要：

对National Instruments主要功能等概念进行介绍,运用National Instrument技术实现下滑曲线和侧偏距校对曲线.

关键词： 待飞距离 侧偏距 测控系统

作者: 杜明

作者单位: 中国电子科技集团公司第54研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国遥感遥测遥控学术研讨会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 319-321

在线出版日期: 2006-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）