基于march算法的嵌入式存储器BIST技术

摘要：

随着嵌入式存储器规模的不断增大,BIST成为一种节省存储器测试时间和测试成本的有效手段.march算法是当前MBIST设计中最适合的算法.简要介绍了存储器故障模型和各种重要的march算法,探讨了MBIST的几种实现方式,从速度、面积、灵活性和IP保护等几方面对它们进行了分析比较,提出了未来MBIST技术的发展趋势.

关键词： 故障模型 march算法 数据背景 内建自测试

作者: 唐涛 许邦建

作者单位: 国防科学技术大学计算机学院,长沙,410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第14届全国信息存储技术学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 19-23

在线出版日期: 2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）