RR、GE、GEAE荧光检测系统特点对比

摘要：

本文通过对RR GE GEAE公司的NDT FPI荧光检测系统特点的对比,达到使FAST荧光检测系统更完善,更利于生产的发展的目的.从而不断提高FAST荧光检测系统的稳定性和可靠性.

关键词： 零件预清洗 荧光渗透 后乳化 系统灵敏度试板 荧光探伤

作者: 刘素平

作者单位: 四川成发航空科技股份有限公司技术中心,610067

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006年西南地区第九届NDT学术年会暨2006年全国射线检测新技术研讨会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 332-340

在线出版日期: 2006-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）