Tween-80增敏离子缔合物固体基质室温燐光法测定痕量银
基于pH4.5NaAc-HAc缓冲液和Tween-80(吐温-80)存在时,50±1℃下反应10 min,Ag+与邻二氮菲(Phen)生成Ag(Phen)2+络离子,该络离子同四氯四碘荧光素(HFIn I4Cl4)作用生成的离子缔合物”Ag(Phen)2”+·”FIn I4Cl4”-能在滤纸基质上发射强而稳定的室温燐光信号的特性,建立了Tween-80增敏离子缔合物固体基质室温燐光测定痕量银的新方法.在最佳条件下,离子缔合物的燐光强度△Ip与Ag+含量成正比,线性范围为1.6～160 ag/斑(每斑点对应浓度为4.0～400 fg/mL的样品溶液0.4 μL),△IP=17.26+0.698 4 mAg+(ag/斑),r=0.999 1(n=10);检出限为0.21 ag/斑(对应浓度为5.2 ×10-16 g/mL),灵敏度很高.分别对1.6和160 ag/斑的Ag+进行11次重复测定,其RSD％相应为4.1与3.9,精密度较好.该方法用于人发、茶叶中银测定,结果与AAS法基本相符.同时,探讨了离子缔合物”Ag(Phen)2”+·”FIn I4Cl4”-发射固体基质室温燐光机理.
银 固体基质室温燐光法 四氯四碘荧光素 吐温-80 邻二氮菲
李志明 黄晓梅 朱国辉 胡丽香 黄鸿华 许良云 刘佳铭
漳州职业技术学院,福建,漳州,363000 漳州师范学院,化学系,福建,漳州,363000
国内会议
南昌
中文
220-221
2006-10-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）