降低BIT虚警方法综述

摘要：

机内测试(BIT)技术是改善系统测试性和诊断能力的重要途径,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因.本工作按照机内测试(BIT)的内部条件,自身状态和外界因素三个方面对BIT的虚警原因进行了分析,并针对BIT各个方面的虚警原因提出了相应的BIT虚警解决方案.这为BIT技术的深入研究打下基础,对解决BIT虚警问题具有参考价值.

关键词： 航空发动机 机内测试 虚警方法 虚警率 神经网络 解析冗余

作者: 楚向磊 李舜酩

作者单位: 南京航空航天大学,能源与动力工程学院,南京,210016

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届发动机结构强度振动学术会暨中国一航材料院50周年院庆系列学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 62-65

在线出版日期: 2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）