环氧树脂648和TDE-85的质子辐照损伤效应研究

摘要：

通过地面模拟空间环境质子辐照条件(质子能量Ep=150keV,束流密度A=2.0×1012cm-2·s-1,辐照剂量范围Φ=0-5.0×1016cm-2;真空度10-6Pa,环境温度120K),研究了不同辐照剂量下环氧树脂浇注体648和TDE-85的质量损失、弯曲强度和表面的变化.试验结果表明,随着辐照剂量的增加,质量损失呈现先加速递增后趋于平缓的趋势;648的弯曲强度呈单边下降趋势,TDE-85的弯曲强度呈现先上升后下降的趋势;树脂表面产生了炭化效应;表面粗糙度也发生了不同程度的变化.

关键词： 环氧树脂 质子辐照 质量损失 弯曲强度 炭化效应

作者: 姜利祥 盛磊 何世禹

作者单位: 北京卫星环境工程研究所,北京,100094;哈尔滨工业大学,哈尔滨,150001 北京卫星环境工程研究所,北京,100094 哈尔滨工业大学,哈尔滨,150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国宇航学会结构强度与环境工程专委会航天空间环境工程信息网学术讨论会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 126-130

在线出版日期: 2005-09-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）