波长色散X射线荧光分析的新发展
本文论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况.除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展.本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况.同时本文引入对无标样分析的基本参数法(FP法)目前发展状况的介绍.
波长色散X射线 荧光分析 元素成像 次谱线分析 薄膜分析 无标样分析
安国玉
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28-30
2006-06-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)