数字测试交换格式数据的应用与开发
本文针对应用数字测试可交换格式(DTIF)增强数字电路板测试程序集(TPS)在各种自动测试设备(ATE)上的可移植性问题,通过对IEEE标准1445-1998和IEEE标准1546-2000进行深入分析,介绍了数字测试交换格式数据应用与开发的实现方法,不仅能对难以理解的DTIF数据进行可视化的阅读和分析,而且摆脱对数字自动测试程序生成器(DATPG)的依赖,直接生成符合DTIF的测试诊断数据,对于提高数字测试程序的开发效率和可移植性具有显著的意义.
数字电路板 测试程序集 交换格式数据
贺喆 林志文 李杨
海军电子设备维修测试研究中心,北京,102442
国内会议
西安
中文
180-184
2006-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）