测试总线技术的发展研究

摘要：

本文介绍了测试总线技术的发展历史,比较了常用测试总线的特点、性能及适用场合.最后根据当前总线测试技术的发展趋势以及大规模集成电路的强大功能,提出了基于LXI总线技术的总线测试板卡应具有直接与LXI进行通信,以及智能芯片能自主完成智能测试或检测功能的发展新思路,使LXI总线真正成为与VXI和PXI总线具有可比性的测试总线.

关键词： 测试总线 总线测试板卡 检测功能

作者: 李国卿 黄金杰

作者单位: 西安电子工程研究所,陕西,西安,710100

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 25-28

在线出版日期: 2006-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）