基于VXI总线的多功能边界扫描控制器的研制

摘要：

本文根据系统级边界扫描测试技术的需求,研制了基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器,具备三种操作模式:IEEE1149.1TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式.由上位机控制模件组态到期望的模式,模件上的TAP口控制器产生1149.1测试信号,提供给JTAG口用于通过TDO/TDI扫描链对被测目标板进行边界扫描测试.IEEE1149.5主控制器可完成和从控制器间的通讯以便对机箱或子系统级中可测试性模件进行边界扫描测试.兼容于BSDL和EDIF文件格式的自动测试向量生成软件可实现多种扫描测试功能.

关键词： 边界扫描控制器 测试向量生成 操作模式

作者: 赵文彦 杜影 徐凌辉

作者单位: 北京航天测控技术开发公司,北京,100037

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 336-339

在线出版日期: 2006-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）