紫外电晕成像技术在绝缘子缺陷检测中的应用

摘要：

本文阐述了一种新型紫外电晕检测仪的工作原理,并进行了多项绝缘子常见缺陷的模拟试验,结果表明利用紫外成像检测技术可有效地发现一些运行绝缘子缺陷,值得进一步应用和深入研究.

关键词： 绝缘子 缺陷检测 紫外电晕检测仪

作者: 周建国 傅晨钊 肖嵘

作者单位: 华东电网有限公司 华东电力试验研究院

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电工技术学会电工陶瓷专业委员会、中国硅酸盐学会陶瓷分会电瓷学组、中国电器工业协会绝缘子避雷器分会2005年学术年会

会议地点: 河南洛阳

会议语种:中文

页码: 108-111

在线出版日期: 2005-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）