衰减和信号校准装置的过程控制

摘要：

本文简要讨论了衰减和信号校准装置的测量不确定度评定,并描述了如何绘制极差控制图和平均值控制图.重点提出了正确地确定绘制平均值控制图的过程参数,以确保测量过程处于受控状态.

关键词： 测量不确定度 平均值控制图 极差控制图 信号校准装置

作者: 钟越红

作者单位: 中国三江航天集团计量站,孝感,432100

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国计量与测试学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 80-87

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）