电化学原位红外反射光谱中薄层电解池厚度的干涉条纹法研究

摘要：

本文应用干涉条丝毫法测量电化学原位红外反射光谱中薄层电解池的厚度以及实际研究体系中红外光谱信噪比随液层厚度的变化.研究结果表明,要进行红外检测,液层厚度必须小于60 μm;而在实际研究体系中,液层厚度一般要在10 μm以内.

关键词： 干涉条纹法 薄层厚度 原位FTIRS

作者: 苏章菲 陈友江 周志有 李君涛 孙世刚

作者单位: 厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室,福建,厦门,361005

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国分子光谱学学术会议

会议地点: 福建厦门

会议语种:中文

页码: 59-60

在线出版日期: 2004-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）