电子学系统涂层检测系统开发

摘要：

为了解决电子学系统中涂层面密度、厚度等性能参数的快速、可靠检测,利用塞多利斯LA4200S电子天平、涂层厚度测量仪等程控仪器,根据屏蔽件涂层检测工艺流程特点分别设计开发检测计划管理模块、数据库管理模块、检测数据报告单模板、应用程序数据交换接口控制模块和仪器接口通讯控制模块,通过几大功能模块的有机结合,实现了系统检测数据的自动采集、涂层厚度/面密度的自动计算、质量报告单自动产生和喷涂层质量合格性自动判断等功能,大大提高了检测效率.本文着重叙述了系统各个功能模块的设计方案.

关键词： 涂层检测 涂层厚度 涂层面密度

作者: 钟文勇 唐胜江 杨新文

作者单位: 中国工程物理研究院,四川,绵阳,621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国信息与电子工程学术交流会暨第十三届四川省电子学会曙光分会学术年会

会议地点: 四川西昌

会议语种:中文

页码: 444-451

在线出版日期: 2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）