亚皮秒脉冲激光局部辐照CCD探测器的效应实验

摘要：

开展了500fs超短脉冲激光对CCD探测器局部的辐照实验,随激光辐照能量密度的增加,观察到了CCD探测器从线性区进入像元饱和,再到饱和串音,直至实现硬损伤的整个过程,并对硬损伤机理进行了初步分析。

关键词： CCD探测器 超短脉冲激光 硬破坏阈值 激光辐照能量密度 像元饱和阈值

作者: 黄绍艳 唐本奇 张永生 张勇 王祖军 肖志刚

作者单位: 西北核技术研究所,西安,710024

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国光电技术学术交流会

会议地点: 福建厦门

会议语种:中文

页码: 372-375

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）