1310nmLD组件高低温循环寿命的实验研究
模拟不同环境条件下,对1310nm半导体激光二极管(LD)组件进行了高低温循环寿命的实验研究,得到了循环寿命的数学模型.结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试器件在高温差、高循环速度条件下的循环寿命,外推器件正常条件下的循环寿命.
半导体激光器 激光二极管 高低温循环寿命测试 数学模型 外推器件
苏美开 高稚允 刘秉琦
北京理工大学光电工程系,北京,100081
国内会议
福建厦门
中文
466-468
2004-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)