二次光电成像系统对1.06 μm激光探测能力研究

摘要：

本文提出利用红外变像管和CCD摄像机的二次光电成像方法探测1.06 μm激光.叙述二次光电成像系统的原理,对激光信号和太阳背景的传递过程进行了详细的分析,导出了系统探测到1.06 μm激光能量和对比度的计算公式,对系统的探测能力进行分析和估算。

关键词： 光学测量 激光探测能力 光电成像 红外变像管 CCD摄像机 激光光斑成像测量

作者: 刘正云 谭谦 金伟其 付静

作者单位: 北京理工大学信息科学技术学院,北京,100081;北京跟踪与通信技术研究所,北京,100094 北京跟踪与通信技术研究所,北京,100094 北京理工大学信息科学技术学院,北京,100081

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国光电技术学术交流会

会议地点: 福建厦门

会议语种:中文

页码: 136-139

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）