液晶器件扭曲角与光延迟的光学外差法测试技术理论研究

摘要：

本文把光学外差法应用于液晶器件扭曲角与光延迟的测试, 提出了测试系统的光路简图,推导出了外差式测试方程,并对此方程进行了数值模拟与分析.此方法将液晶层的相位差转化为光学拍频信号的相位,由传统方法的测量光强转为测量相位差,能克服传统方法的缺点,因此具有较高的精度与抗干扰性.

关键词： 液晶显示 参数测试 扭曲角 光延迟 光学外差法

作者: 陆云涛 于涛

作者单位: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,北方液晶工程研究开发中心,吉林,长春,130031;中国科学院研究生院,北京,100039 大连海事大学,光电子技术研究所,辽宁,大连,116026

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006中国平板显示学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 209-213

在线出版日期: 2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）