LD热弛豫时间与泵浦光谱效率的改进
(0) 本文采用测试半导体激光器热弛豫时间的新方法,测量光信号脉冲内不同时刻的时间分辨光谱,测试了TO封装和cm-Bar列阵的AlGaAs/GaAs半导体激光器泵浦光源,得到其热弛豫时间分别为为66μs和96μs.在目前常用的方波驱动电流脉冲工作条件下,半导体激光器作为固体激光器泵浦源,如果热弛豫时间过长,单个脉冲内激射波长会偏离固体激光介质的吸收带,导致泵浦光波长利用率和有效泵浦能量降低.为克服现有技术的不足,文中提出了两种新型的驱动电流脉冲波形,通过优化电流波形参数可以将泵浦波长利用率提高30％左右,得到更大的有效泵浦能量.
半导体激光器 热弛豫时间 驱动电流波形
程灿 辛国锋 皮浩洋 瞿荣辉 方祖捷
中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800
国内会议
成都
中文
367-371
2006-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）