高速数字电路测试的关键技术-Timing的研究

摘要：

通过的Timing的实现与研究,利用该项技术全面提升高速数字电路测试模块的性能与指标,增强高速数字电路的测试能力,同时由于国际数字电路测试标准中对Timing作了具体的要求与规定,该项技术的实现有利于数字电路测试与国际标准接轨与兼容.

关键词： 数字电路测试 PXI Timing 国际标准

作者: 曹伟洲 周天

作者单位: 中国船舶重工集团公司测控技术部,武汉,430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十六届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 123-125

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）