自动测试模式生成中的BDD学习方法

摘要：

本文提出了基于TRL的BDD学习方法,它有效地结合了SAT、BDD和结构等方法各自的优点,可以有效地解决局部信号赋值之间的关联性.其具体的做法就是首先分析电路的拓扑结构,收集局部信号的关联信息,构造局部电路结构的BDD图,之后则从该图中学习出引起冲突赋值的CNF子句,将这些学习的子句增补到子句库中,用以限制和修剪ATPG的搜索空间,从而加速测试模式的生成过程.实验结果说明了该方法的有效性.

关键词： 自动测试模式 故障测试 布尔可满足性 BDD学习 集成电路 拓扑结构

作者: 刘歆 熊有伦

作者单位: 湖北工业大学电气与电子工程学院,武汉市,430068 华中科技大学,武汉市,430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十六届全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 72-77

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）