基于量子过程层析的量子系统参数测定

摘要：

本文对基于量子过程层析的量子系统参数测定进行了研究。文章在回顾了量子层析发展历史的基础上，借助量子过程层析术测定量子信道参数的思想提出了一种测定量子控制系统参数的方法。

关键词： 量子层析 量子控制 量子系统

作者: 吴庆林 陈宗海

作者单位: 中国科学技术大学自动化系,安徽,合肥,230027

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006系统仿真及其应用学术交流会

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 840-843

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）