嵌入式高集成度DRAM ECC电路纠错码的选择及性能评估
本文比较了三种广泛应用于存储器的32-bitSEC-DED编码的性能和纠错能力,并根据电路,在以上编码的思想的基础上,提出了一种在编码延迟和多比特错误发现率上有明显优势的编码,Fast;同时对硬件实现的主要开销进行了评估.
信息存贮 数据传输 编码电路
赵欣 刘伯安 陈宏毅
清华大学微电子所,北京,100084
国内会议
北京
中文
249-253
2005-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
信息存贮 数据传输 编码电路
赵欣 刘伯安 陈宏毅
清华大学微电子所,北京,100084
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249-253
2005-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)