会议专题

嵌入式高集成度DRAM ECC电路纠错码的选择及性能评估

本文比较了三种广泛应用于存储器的32-bitSEC-DED编码的性能和纠错能力,并根据电路,在以上编码的思想的基础上,提出了一种在编码延迟和多比特错误发现率上有明显优势的编码,Fast;同时对硬件实现的主要开销进行了评估.

信息存贮 数据传输 编码电路

赵欣 刘伯安 陈宏毅

清华大学微电子所,北京,100084

国内会议

第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会

北京

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249-253

2005-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)