高速数字电路中同步开关输出噪声的解决方案

摘要：

本文分析了大规模集成电路物理设计中出现的同步开关输出(SSO)噪声原理,并给出了一种基于spice的快速建模、协同验证的仿真方法.运用这种方法,即使是IO数目众多的电路设计也可以快速的得到解决方案,确定最少的能满足要求的电源地IO的数目,并且满足防止噪声的要求.芯片投片后的测试结果验证了这一方法的有效性.

关键词： 集成电路 数字电路 开关噪声

作者: 蒋见花 霍津哲 周玉梅 刘海南

作者单位: 中科院微电子研究所,专用集成电路与系统研究室,北京,100029

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 74-77

在线出版日期: 2005-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）