SOC芯片系统可测性设计方法研究

摘要：

本文对SOC芯片系统可测性设计进行了论述。基于核的SOC设计正在飞速发展,这种设计方法充分利用了设计的可重用性,从而得到了更短的开发周期.然而,SOC芯片系统的测试仍面临着巨大的挑战,同时SOC芯片系统可测性设计方法也成为了SOC设计的一个重要的研究热点.

关键词： 集成电路 芯片设计 电路测试

作者: 邬贵明 窦勇

作者单位: 国防科技大学计算机学院,湖南,长沙,410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 44-47

在线出版日期: 2005-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）