半导体光电器件噪声特性的测试分析

摘要：

半导体光电器件的噪声特性与其制造工艺的一致性、稳定性、完美性密切相关,与其可靠性水平联系紧密.因此,深入研究半导体光电器件的噪声特性,对控制器件可靠性水平具有重要的现实意义.

关键词： 光电耦合器 噪声特性 噪声测试 半导体光电器件

作者: 王四新

作者单位: 北京瑞普北光电子有限公司,100027

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 160-164

在线出版日期: 2005-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）