基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

摘要：

本文介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括功能测试原理,电器特性测试原理以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以具体电路为例介绍了常见的故障分析.

关键词： 集成电路测试 通用测试仪 直流/交流参数测试 功能测试 SCAN

作者: 潘曙娟 钟杰

作者单位: 中国科学院微电子研究所杭州分部,杭州,310053

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 150-154

在线出版日期: 2005-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）