一种在高速I/O接口嵌入边界扫描电路的方法

摘要：

本文阐述了一种具有对原电路影响最小的,将边界扫描单元嵌入到高速I/O电路的方法.对传榆端利用1149.1标准,将边界扫描寄存器插入到低速并行端口,而在接收端利用IEEE1149.6技术将边界扫描寄存器插入到高速串行端口.通过芯片测试举例证实了使用该方法对任务状态的原电路工作影响最小.

关键词： 集成电路 芯片测试 边界扫描

作者: 赵志宏 李小珉 陈冬

作者单位: 海军工程大学,武汉,430033

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 208-212

在线出版日期: 2005-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）