Bi系带材性能研究

摘要：

本文介绍一种能够迅速获得Bi系带材多种性能参数的方法.它采用计算机进行数据采集和控制,在不断改变外力和外场的同时,对样品施加缓慢变化的传输电流,从而连续测出样品在不同应变和外场下的临界电流.该方法可以方便地获得Bi系带材的应力-应变曲线,临界电流-应变曲线,外场-临界电流曲线,不同应变下的伏安特性曲线以及不同外场下的伏安特性曲线等.通过对几种带材性能的研究表明,该方法简单实用,数据可靠,可供广大材料研究者和材料应用研究人员使用.

关键词： 超导体 Bi系带材 应力应变曲线 安特性曲线 临界电流

作者: 何砚发 吕朝阳 王金星

作者单位: 东北大学物理系,沈阳,110004

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国超导学术研讨会

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 64-67

在线出版日期: 2003-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）