欠掺杂双层铜氧化物的输运性质
本文在t-J模型下,应用fermion-spin理论,研究了双层掺杂铜氧化物材料的输运性质.结果表明,双层铜氧化物材料输运性质与单层定性相同:光电导显示出低能峰和反常中红外带,随着温度升高,中红外带被强烈压制;非常欠掺杂区域的电阻显示出从高温时金属行为到低温时绝缘体行为的转变.这些都与实验结果定性相符.
铜氧化物 输运性质 双层掺杂 超导体
秦吉红 袁峰 冯世平
北京师范大学物理系,北京,100875
国内会议
合肥
中文
567-571
2003-04-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)