厚度小于100nm的Tl2Ba2CaCu2Ox高温超导薄膜
采用直流磁控溅射和在纯氩气中后热处理的方法,在LaAlO3(001)衬底上生长出厚度小于100nm的Tl2Ba2CaCu2Ox(Tl-2212)超导薄膜.在77K和零磁场下,100nm厚的薄膜具有105.3K的超导转变温度和2.33×106A/cm2的临界电流密度.这些值与较厚的Tl-2212薄膜的最好值相符.30nm厚的薄膜仍具有大于100K的转变温度,并具有光滑致密的表面形貌和外延生长的晶体结构.20nm厚的薄膜仍显示出正常态的金属行为和充分的超导转变.当厚度小于20nm时,薄膜的表面形貌和超导电性明显变坏,6nm厚的薄膜在15K低温下,未发现超导转变.从这个意义上看,20nm为我们所研究的Tl-2212薄膜的临界厚度.
高温超导薄膜 铜氧化物 直流磁控溅射 薄膜厚度 表面形貌 超导电性
路荣涛 阎少林 方兰 何明 赵新杰 马永昌 周铁戈 贾颖新 王建伟 路昕
南开大学电子科学系,天津,300071
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551-555
2003-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）