消光法粒度测量中折射率反演问题研究

摘要：

本文对消光法粒度测量中折射率反演问题进行了研究。文章认为，多波长消光法粒度测量中,在已知粒度分布前提下,采用遗传算法可以对折射率进行反演.相比于传统的优化方法,该算法获得的折射率结果逼近全局最优解。

关键词： 纳米材料 颗粒测量 光谱测量

作者: 徐峰 蔡小舒 苏明旭 任宽芳

作者单位: 上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所IPTFM,上海,200093;法国应用科学研究院燃气涡轮研究所CORIA,鲁昂,76801 上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所IPTFM,上海,200093 法国应用科学研究院燃气涡轮研究所CORIA,鲁昂,76801

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005年上海市颗粒学会年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 23-27

在线出版日期: 2005-06-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）