消光起伏光谱法颗粒测量技术介绍

摘要：

本文对消光起伏光谱法颗粒测量技术进行了介绍。文章指出，消光起伏光谱法是一种新发展起来的方法,该方法基于消光起伏法,然而在数学模型上更加复杂和严格,可同时测量颗粒的粒径分布和浓度,无需作边界修正,具有可测量颗粒粒径范围宽和浓度动态范围广的优点。

关键词： 纳米材料 材料分析 颗粒测量 光谱法

作者: 沈建琪

作者单位: 上海理工大学,上海,200093

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005年上海市颗粒学会年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 16-22

在线出版日期: 2005-06-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）