用Laplacian算子检测粒子与线条
本文在原来的Laplacian算子计算结果中增加偏移量offset,并仅取结果中的正值(与零)部分,以达到检测图象中的点与线条的目的.当对象比背景亮时,offset取1,用于检测明区边缘,为黑底白线;当对象比背景暗时,offset取254,用于检测暗区边缘,为白底黑线.后者类似画家所作的素描,可用于人物素描的制作.图象处理中,此算法可直接用于检测粒子和单点宽的线条,与线条掩模相结合也可检测较粗的线条.文中给出了在DPIV(数字粒子测速技术)、焊缝和菌丝图象中检测粒子与线条的实例.本文还提出了根据单峰直方图下降段的波形分析确定分割阈值的方法。
Laplacian算子 边缘检测 图象分割 二值化 DPIV 单峰直方图
陆宗骐 陈芳 王学城
华东理工大学信息学院,上海,200237
国内会议
北京
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683-686
2005-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）