烧端工艺对片式ZnO压敏限制电压比的影响

摘要：

本文通过对烧端工艺中不同烧端温度以及保温时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器限制电压比的影响.结果表明:对于主成份为Ag/Pd/Pt的端电极浆料,随着烧端温度的升高以及保温时间的延长,产品的限制电压比将降低;当烧端温度在850℃,保温时间15min,产品的限制电压比最小(1.92);随着烧端温度的继续升高以及保温时间的再延长,产品的限制电压比又升高.

关键词： 片式氧化锌压敏电阻器 烧端工艺 限制电压比 过电保护

作者: 唐斌 祝忠勇 赖扬 伍尚国

作者单位: 广东风华高新科技集团有限公司,广东,肇庆,526020

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会敏感技术分会第十二届电压敏学术年会

会议地点: 南阳

会议语种:中文

页码: 38-41

在线出版日期: 2005-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）