通用微处理器等效老化试验方法

摘要：

针对不同工艺、不同设计的同类集成电路等效老化的需要,提出了集成电路等效老化的特征参数--”归一化老化电流”指标a,并讨论了等效老化信号的确定原则.结合集成电路等效老化信号确定原则,以CPU486为研究对象,给出通用CPU等效老化试验方案,为评估和比较不同CPU的质量和可靠性提供了统一的试验平台。

关键词： 微处理器 CPU 等效老化试验 归一化老化电流 信号频率 集成电路 质量可靠性

作者: 焦慧芳 温平平 贾新章 王群勇 罗雯

作者单位: 西安电子科技大学微电子研究所,710071;信息产业部电子第五研究所,510610 西安电子科技大学微电子研究所,710071 信息产业部电子第五研究所,510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届电子信息系统质量与可靠性学术研讨会

会议地点: 山西平遥

会议语种:中文

页码: 221-228

在线出版日期: 2005-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）