直流电压对XLPE绝缘电缆介电性能的影响

摘要：

运行一年的交联聚乙烯电缆试样(试样A)和未经使用过的交联聚乙烯电缆试样(试样B)在高电场下进行电树引发,用扫描电子显微镜(SEM)和光学显微镜观察它们的微观结构.发现试样A上的电树在长度和维数上比试样B更大和更多,用SEM观察到试样A上出现一些特别的痕迹,可以认为是添加剂的微粒在高场强下从XLPE中分离出来.试样A的介质损耗比试样B大30﹪.在试样中没有发现试样A的绝缘电阻降低,这与运行中试样A的监测结果不一样.

关键词： 交联聚乙烯电缆 直流电压 微观结构 介电性能

作者: 胡庆娟 胡春秀 高俊国 张晓虹

作者单位: 哈尔滨理工大学,电气与电子工程学院,哈尔滨,150040

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国工程电介质会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 253-256

在线出版日期: 2005-10-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）