会议专题

站用瓷材料离子迁移特性的试验研究

本文研究了站用瓷材料在直流电场下的离子迁移特性,对两种类型的试品分别进行了长期离子迁移老化试验,探讨了离子迁移对站用瓷材料老化以及使用寿命的影响.研究结果表明:当瓷材料中Na+离子的含量较低时,离子迁移不会对直流棒形瓷绝缘子的长期机械性能产生影响,但会使直流瓷套管的长期电气性能有所降低;离子迁移通常不会影响Na+含量较低的瓷套管的使用寿命.

绝缘子 套管 离子迁移性 老化试验 使用寿命

齐波 宿志一 李成榕

华北电力大学(北京)电气工程学院,北京,102206 中国电力科学研究院,北京,100085

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第十届全国工程电介质会议

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126-130

2005-10-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)