会议专题

靶材料面密度用β射线测量的定标问题研究

为了能用β射线准确测量ICF靶材料面密度(即质量厚度)及其均匀性分布,本文用蒙特卡罗方法模拟计算了不同能量电子在不同材料中的透射率与质量厚度的变化关系,由此关系得到了用纸和铝材料分别作替代标准给CH材料的厚度测量带来的误差大小,此结果为替代标准材料的选择提供了依据和为定标引起的误差修正提供了方法.

蒙特卡罗方法 β射线厚度测量 β透射率 惯性约束聚变

倪伟峰 李斌 徐家云

四川大学物理科学与技术学院

国内会议

第八届全国激光科学技术青年学术交流会

福州

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389-392

2005-11-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)