纳米Si3N4粒子的表面PZC的测定

摘要：

通过盐添加物法和电势滴定法测定了纳米Si3N4粒子的零电荷电势.结果表明,在pH为2-9的溶液中,纳米Si3N4粒子表面荷正电,且溶液的离子强度和实验温度对其表面荷电状态影响不大.同时,提出采用两步法对复合镀前的纳米Si3N4粒子进行表面化学修饰.

关键词： 氮化硅 零电位 盐添加物法 电位滴定法 电镀

作者: 阴军英 牛朝霞 张昭 张鉴清 曹楚南

作者单位: 浙江大学玉泉校区化学系,杭州,310027

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006年全国腐蚀电化学及测试方法学术会议

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 181-184

在线出版日期: 2006-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）